EN 933-1-2012 集料的几何性能的试验.第1部分:粒度分布的测定.筛分法

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 14:11:54   浏览:9644   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Testsforgeometricalpropertiesofaggregates-Part1:Determinationofparticlesizedistribution-Sievingmethod;GermanversionEN933-1:2012
【原文标准名称】:集料的几何性能的试验.第1部分:粒度分布的测定.筛分法
【标准号】:EN933-1-2012
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2012-03-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Aggregates;Construction;Constructionmaterials;Definitions;Determination;Dimensions;Geometricalproperties;Grainsize;Grainsizing;Materialstesting;Mineralaggregates;Particlesizedistribution;Particlesizemeasurement;Particulatematerials;Properties;Rocks;Screening(sizing);Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q13
【国际标准分类号】:91_100_15
【页数】:19P;A4
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:3DD65型和3DD66型NPN硅外延平面低频大功率三极管
英文名称:Detail specification for silicon NPN epitaxial planar low-frequency high power transistors Type 3DD65 and 3DD66
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体三极管
发布部门:中华人民共和国第四机械工业部
发布日期:1974-10-01
实施日期:1974-10-01
首发日期:
作废日期:2010-01-20
出版社:中国电子工业出版社
出版日期:1974-10-01
页数:4页
适用范围

本标准适用于耗散功率为75W的3DD65型和3DD66型NPN硅外延平面低频大功率三极管。该产品用于电子设备的低频功率放大、电源变换和低速开关的电路中。
该产品除应符合本标准规定外,还应符合半导体三极管总技术条件SJ614-73的规定。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体三极管
【英文标准名称】:Electricalinstallationsofbuildings-Part5:Selectionanderectionofelectricalequipment-Chapter53:Switchgearandcontrolgear
【原文标准名称】:建筑物的电气设施.第5部分:电气设备的选择和安装.第53章:开关控制装置
【标准号】:IEC60364-5-53-1994
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1994-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC64
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气设备;控制装置;建筑物服务设施;电控制设备;电力设备;电气工程
【英文主题词】:electriccontrolequipment;controldevices;electricalengineering;buildingservices;electricalinstallations;electricalequipment
【摘要】:
【中国标准分类号】:P91
【国际标准分类号】:91_140_50
【页数】:21P;A4
【正文语种】:英语