DIN 41792 Bb.1-1971 用于通讯技术的半导体元件.晶体管测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-14 13:19:09   浏览:9682   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevicesfortelecommunication;measuringmethods,transistors
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.晶体管测量方法
【标准号】:DIN41792Bb.1-1971
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1971-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;晶体管;短路电流;电气工程;测量技术;发射极;半导体;乱真信号;直流电流
【英文主题词】:semiconductordevices;transistors;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;short-circuitcurrents;emitters;noise(spurioussignals);directcurrent;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2400
【页数】:14P;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:一等标准活塞式压力真空计
英文名称:Verification Regulation of Standard Piston Gauge for Gauge Pressure Range -0.1~0.25MPa(Grade Ⅰ)
中标分类: 综合 >> 计量 >> 力学计量
替代情况:替代JJG 236-1981;被JJG 236-2009代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1994-09-06
实施日期:1993-05-01
首发日期:
作废日期:2010-01-30
归口单位:中国计量科学研究院
起草单位:中国计量科学研究院、山东省计量科学研究所
起草人:王宁文、张首君
出版社:中国计量出版社
出版日期:2004-04-18
页数:19页
书号:155026-786
适用范围

本规程适用于新制造、使用中和修理后的压力为0.01~0.25MPa、负压为-0.1~-0.0MPa的一等(0.02级)标准活塞式压力真空计的检定。

前言

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所属分类: 综合 计量 力学计量